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芯片作为电子产品的核心组成部分,起着电子产品大脑的作用.为了保证芯片的可靠性和耐用性,厂家需要在出厂前进行芯片老化测试.在对芯片老化测试控制系统进行综述的基础上,采用PLC与组态王对芯片老化温度控制系统中上、下位机的硬件和软件分别进行了设计,实现了系统的位式控制.调试结果表明:该设计能准确完成芯片老化测试的任务,确保每... 相似文献
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