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基于光子传输模拟的苹果品质高光谱检测源探位置研究 总被引：1，自引：1，他引：0
光谱无损的检测方法是质检测最常用的方法之一。传统的光谱仪光源探头位置和源探距离相对固定,导致品质检测精度受限。为解决这个问题,提出基于蒙特卡洛的苹果多层组织的光子传输模拟,分析了光子入射最佳位置和源探距离,并用点光源高光谱仪实际拍摄红富士苹果进行验证。分析表明,光子在苹果赤道位置入射,具有73.12%概率到达更深的深度。源探距离与苹果的光学参数有关,形状为圆环,源探距离内外半径为1.5～10.15 mm。点光源高光谱仪采集红富士苹果的光谱信息,光子入射位置为赤道,源探距离为距离光源点半径2.7～11.7mm的圆环,与模拟数据分析结果基本一致。蒙特卡洛光子传输模拟方法为研究高光谱苹果品质无损检测开辟了新思路,分析结果可以为研究高光谱品质检测试验设计和苹果便携式品质检测光学仪器设计提供理论基础。 相似文献
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