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由于印迹聚合物薄膜表面具有孔洞结构而表面不平整,因此为测量其光学厚度建立了薄膜反射干涉谱(RIfS)的阶梯模型,编写了采用阻尼最小二乘法的全光谱拟合计算程序,通过对实验光谱数据的拟合处理后可以直接得到单层膜或双层膜的光学厚度。将印迹纳米微球与聚苯乙烯(PS)甲苯溶液混合,旋涂到载玻片及硅片上制备氯霉素(CAP)印迹膜作为RIfS检测系统的敏感介质层,建立了不同基底的印迹膜光学厚度变化与CAP样品浓度之间的标准曲线,检出限分别为0.229 1 mmol/L、0.185 2 mmol/L。在此基础上,对加标实际样品(牛奶)中CAP进行固相萃取,萃取液稀释后结合标准曲线进行定量,回收率为91%,所得结果与高效液相色谱(HPLC)测定结果相符,显示了印迹敏感膜结合RIfS光谱在传感器中应用的可行性。  相似文献   
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