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利用LCR平行板测试仪在1~1 000 k Hz频率范围内测试推算了贮藏期间草莓相对介电常数ε'、介电损耗因子ε″,分析了其随贮藏时间动态变化规律。此外,测试分析了贮藏过程中草莓品质指标(呼吸强度、可溶性固形物和失质量率)的变化规律;最后,运用逐步回归法对草莓介电参数与品质指标进行了相关性及回归分析。结果发现,8个较佳频率点下的介电参数与草莓品质指标间具有较强的相关性,均达到极显著水平(P0.01);两者建立的逐步回归模型相关系数R2依次为0.93、0.87、0.90。结果表明,利用草莓的介电参数预测草莓的内在品质是可行的。  相似文献   
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