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液滴法[1]是制作薄膜样品的最简单方法,本文介绍了使用该方法制作薄膜样品的具体步骤.由于样品在自然蒸发过程中具有结晶效应,使得最终形成的样品极不均匀.如果使用这种样品刻度系统的灵敏度曲线,样品的不均匀性会引起严重的实验误差.利用使用X光会聚透镜的XRF系统[2]形成的小束斑,可对样品的均匀度进行分析.另外文中给出了在使用此种样品刻度系统灵敏度曲线时,消除样品不均匀性引起误差的方法. 相似文献
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XRF系统灵敏度曲线的标定 总被引：2，自引：1，他引：1
将整体会聚透镜0301组合到XRF分析系统,并使用最小焦斑为15的OXFORD高亮微聚焦X射线源作为光源.使用不锈钢合金、化合物、单元素3种薄膜标样标定了此XRF分析系统的灵敏度曲线,并对比了使用透镜和使用光阑两种情况下系统灵敏度曲线的不同.通过计算可知,X光透镜显著提高了系统的灵敏度,两种情况荧光产额数之比对于元素Ni最大,约为2 386;Se元素的比值最小,为575. 相似文献
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