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与耐大豆疫霉根腐病相关的QTL分析
引用本文:李修平,韩英鹏,丁俊杰,张淑珍,马文东,李文滨.与耐大豆疫霉根腐病相关的QTL分析[J].大豆科学,2008,27(4).
作者姓名:李修平  韩英鹏  丁俊杰  张淑珍  马文东  李文滨
作者单位:1. 东北农业大学大豆研究所,大豆生物学教育部重点实验室,黑龙江,哈尔滨,150030
2. 黑龙江省农科院佳木斯分院,黑龙江,佳木斯,150040
3. 黑龙江省农科院水稻研究所,黑龙江,佳木斯,154026
基金项目:国家国际合作重点项目,国家高技术研究发展计划(863计划) 
摘    要:疫霉根腐病是世界范围内的大豆生产上的毁灭性病害。利用470对SSR引物对由耐病品种Conrad×合丰25获得的140个F2:5,重组自交系(RIL)群体的耐大豆疫霉根腐病基因进行QTL分析,为将耐病基因聚合的分子辅助育种提供理论依据。田间耐病性鉴定于2007年在中国黑龙江省佳木斯和加拿大Woodslee两点进行,并分别采用来自两地的混合菌种进行温室鉴定。经过WinQTL 2.0复合区间法计算,共有4个分子标记(Satt428、Satt600、Satt325和Satt233)与大豆疫霉根腐病显著相关。这些分子标记对病害损失率贡献率从5.47%到27.89%不等。Satt428和Satt600定位在MLG D1b+W上,遗传距离相距10.9cM;Satt325和Satt233分别定位在MLGF和MLG A2上。通过大环境试验在我国大豆品种合丰25找到与耐大豆疫霉根腐病显著相关的QTL,并定位在MLG A2上。

关 键 词:大豆  疫霉根腐病  QTL  耐病性

Mapping Quantitative Trait Loci Underlining Tolerance to Phytophthora Root Rot in Soybean
LI Xiu-ping,HAN Ying-peng,DING Jun-jie,ZHANG Shu-zhen,MA Wen-dong,LI Wen-bin.Mapping Quantitative Trait Loci Underlining Tolerance to Phytophthora Root Rot in Soybean[J].Soybean Science,2008,27(4).
Authors:LI Xiu-ping  HAN Ying-peng  DING Jun-jie  ZHANG Shu-zhen  MA Wen-dong  LI Wen-bin
Abstract:
Keywords:QTL
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