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铝毒胁迫下不同木豆品种的耐铝性差异比较
摘    要:采用水培法对木豆芽苗进行不同浓度铝(0~200μmol/L Al Cl3)处理0~72 h,通过测定根长,根尖胼胝质和铝含量对木豆的耐铝性进行了初期鉴定;苗期以1/5 Hoagland营养液水培并进行0~3 mmol/L的Al Cl3胁迫14 d,对根系结构、光合作用气体交换和叶绿素a荧光参数等进行研究。主要结果如下:芽期铝处理,桂木6号根尖积累胼胝质和铝含量低于桂木4号;苗期实验中,低浓度铝处理(≤1 mmol/L)促进木豆根系发育,根系活力升高,叶面积增加,净光合速率(Pn)增大,荧光参数Fm,Fm/Fo,Yield略有增加。高浓度铝处理(1 mmol/L)木豆根系生长受阻,根系活力、叶面积,Pn均较对照显著降低,Fo增大,Fm,Fm/Fo,Yield下降显著。桂木6号较桂木4号表现出更强的抗铝特性。

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