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基于CGMD302光谱仪的甜玉米生长指标监测(英文)
引用本文:陈青春,张姿丽,刘鹏飞,王晓明,蒋锋.基于CGMD302光谱仪的甜玉米生长指标监测(英文)[J].农业科学与技术,2015(2):364-368.
作者姓名:陈青春  张姿丽  刘鹏飞  王晓明  蒋锋
作者单位:仲恺农业工程学院作物研究所
基金项目:Supported by Breeding Project of Guangdong Province(2012LYM_0078);Key Projectof Science and Technology of Guangdong Province(2012B020301006);College-levelFund for the Reform of Education and Teaching(G2120020)~~
摘    要:目的]该研究旨在明确甜玉米不同生育期生长指标与光谱仪冠层光谱参数的定量关系,进而为甜玉米生长指标快速监测提供决策依据。方法]通过开展基于正甜68的不同施钾水平的田间试验,于拔节期、大喇叭口期以及抽雄期利用CGMD302光谱仪采集玉米冠层光谱反射率,并同步测定各处理株高、茎粗、叶面积指数等生长指标数据,研究各光谱参数与生长指标之间的关系。结果]归一化植被指数NDVI与茎粗和LAI呈正相关关系,而比值植被指数RVI与茎粗和LAI呈负相关关系,基于NDVI和RVI构建的单个时期监测模型可以有效地反演甜玉米茎粗和LAI,模型检验结果良好,预测精度均达到0.9以上,均方根误差均小于10%,平均相对误差均小于5%。结论]该研究结果可为甜玉米生长指标快速监测提供技术依据。

关 键 词:光谱  株高  茎粗  叶面积指数    模型
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